সিডিএম ইন্টিগ্রেটেড বেধ এবং এরিয়াল ঘনত্ব পরিমাপক
পরিমাপের নীতিমালা
পৃষ্ঠের ঘনত্ব পরিমাপের নীতিমালা
এক্স/β-রে শোষণ পদ্ধতি
বেধ পরিমাপের নীতিমালা
পারস্পরিক সম্পর্ক এবং লেজার ত্রিভুজকরণ
সিডিএম প্রযুক্তিগত পরীক্ষার বৈশিষ্ট্য
দৃশ্যপট ১: ইলেকট্রোড পৃষ্ঠে ২ মিমি প্রশস্ত হলিডে/ঘাটতি রয়েছে এবং একটি প্রান্ত মোটা (নীচে দেখানো নীল রেখা)। যখন রশ্মির দাগ ৪০ মিমি হয়, তখন পরিমাপ করা মূল ডেটা আকৃতির (নীচে দেখানো কমলা রেখা) প্রভাব স্পষ্টতই ছোট দেখায়।
দৃশ্যপট ২: গতিশীল পাতলা এলাকার প্রোফাইল ডেটা ০.১ মিমি ডেটা প্রস্থ
সফ্টওয়্যার বৈশিষ্ট্য
প্রযুক্তিগত পরামিতি
| নাম | সূচী |
| স্ক্যানিং গতি | ০-১৮ মি/মিনিট |
| নমুনা সংগ্রহের ফ্রিকোয়েন্সি | পৃষ্ঠের ঘনত্ব: ২০০ কিলোহার্টজ; বেধ: ৫০ কিলোহার্টজ |
| পৃষ্ঠের ঘনত্ব পরিমাপের পরিসর | পৃষ্ঠের ঘনত্ব: ১০~১০০০ গ্রাম/বর্গমিটার; বেধ: ০~৩০০০ μm; |
| পরিমাপ পুনরাবৃত্তি নির্ভুলতা | পৃষ্ঠের ঘনত্ব: ১৬ সেকেন্ড ইন্টিগ্রাল: ±২σ: ≤±সত্য মান * ০.২‰ অথবা ±০.০৬ গ্রাম/মি²; ±3σ:≤±সত্য মান * 0.25‰ অথবা +0.08g/m²; 4s ইন্টিগ্রাল: ±2σ: ≤±সত্য মান * 0.4‰ অথবা ±0.12g/m²; ±3σ: ≤±সত্য মান * 0.6‰ অথবা ±0.18g/m²;বেধ: ১০ মিমি জোন: ±৩σ: ≤±০.৩μm; ১ মিমি জোন: ±৩σ: ≤±০.৫μm; ০.১ মিমি জোন: ±৩σ: ≤±০.৮μm; |
| সম্পর্ক R2 | পৃষ্ঠের ঘনত্ব >৯৯%; বেধ >৯৮%; |
| লেজার স্পট | ২৫*১৪০০μm |
| বিকিরণ সুরক্ষা শ্রেণী | জিবি ১৮৮৭১-২০০২ জাতীয় নিরাপত্তা মান (বিকিরণ অব্যাহতি) |
| তেজস্ক্রিয় পদার্থের সেবা জীবনকাল উৎস | β-রশ্মি: ১০.৭ বছর (Kr85 অর্ধ-জীবন); এক্স-রে: > ৫ বছর |
| পরিমাপের প্রতিক্রিয়া সময় | পৃষ্ঠের ঘনত্ব < 1 মিমি; বেধ < 0.1 মিমি; |
| সামগ্রিক শক্তি | <3 কিলোওয়াট |
আপনার বার্তা এখানে লিখুন এবং আমাদের কাছে পাঠান।
